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硅胶abs塑料pvc薄膜IC芯片氙灯光老化试验箱

Q-SUN氙灯光老化试验箱可用于硅胶,abs,塑料,pvc,薄膜,IC芯片等产品的氙灯耐候老化测试。

特 点

Q-SUN氙灯光老化试验箱可用于硅胶,abs塑料,pvc,薄膜,IC芯片等产品的氙灯耐候老化测试。

Q-SUN Xe-3-HSCE 硅胶abs塑料pvc薄膜IC芯片氙灯光老化试验箱图片1
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硅胶abs塑料pvc薄膜IC芯片氙灯光老化试验箱产品详情

产品简介

氙灯光老化测试是用来测试硅胶产品耐紫外线老化性能的一种测试方法。紫外线是一种特殊的电磁波,具有高能量和高穿透性,可以穿透大气层,直接照射到地球表面。紫外线辐射会使硅胶产品变脆、变色、变质、变形等现象,影响硅胶产品的使用性能和外观,因此,需要进行氙灯老化测试来检测硅胶产品的耐紫外线老化性能。

为了确保IC芯片的可靠性,需要进行氙灯光老化测试,以检测其对温度、湿度、电压等环境变化的响应性能。氙灯光老化测试可以帮助检测出IC芯片中可能存在的潜在缺陷,从而确保芯片的可靠性。氙灯光老化测试可以检测出IC芯片中可能存在的结构性缺陷,从而确保芯片的可靠性;可以帮助检测出IC芯片中可能存在的电气性缺陷,从而确保芯片的可靠性。

Q-SUN氙灯光老化试验箱可用于硅胶,abs塑料,pvc,薄膜,IC芯片等产品的氙灯耐候老化测试。

产品特色

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产品图

硅胶abs塑料pvc薄膜IC芯片氙灯光老化试验箱产品结构图

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