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ZSX Primus IV

双真空系统,自动真空控制,mapping/微区分析,超轻元素超强灵敏度和自动芯线清洗等。

特 点

Rigaku ZSX Primus IV采用上照射设计,再不用担心粉末样品污染光路,损害光管的风险,操作安全放心。

ZSX Primus IV 波长色散X射线荧光光谱仪图片
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ZSX Primus IV产品详情

ZSX Primus IV标准配置

理学ZSXPrimusIV顺序扫描型X射线荧光光谱仪采用独特的上照射设计,完美契合粉末样品测试需求,可以快速定量分析从Be(铍)到U(铀)的各种类型样品的成分分析。

· 铍(Be)到铀(U)范围中主要和次要元素的定量测定

· 创新上照射方式,确保X光管不会受到样品微粉的污染和损坏

· 快速数字多道分析器D-MCA改善了计数线性,提高了精度

· 先进分析操作软件ZSXGuidance配置全新的定量分析条件自动设置功能

· 超薄皱窗30um的X射线光管,铍窗厚度越薄,灵敏度越高

· 占地面积小,占用的实验室空间更少

· 微量分析可分析小至500um的样品

· 映射功能的元素地形/分布。